新得利(中国)

原位X射线粉末衍射仪

IN-SITUX-rayDiffractometer

仪器型号：RIGAKUSmartlab

生产厂家：日本理学株式会社

主要技术指标：

1、扫描角度范围：0.3°-159°；最小步长：0.0001°

2、扫描方式：θ/θ测角仪，样品水平不动

3、角度重现性：≤0.0001°

4、配置零维、一维、二维探测器系统，可实现0D、1D、2D自动程序切换

5、温度范围：室温-900℃，可在真空/惰性气体/大气氛围下工作

应用领域：

1、常规图谱扫描；2、常温物相鉴定，物相定性、定量分析；3、晶体结晶度、晶粒度、晶粒尺寸分析；4、晶体结构分析定性、定量分析；5、高温原位分析。